LED晶粒(封装前)检测设备
解决方案1. 动態热平衡技术(Dynamic Thermal Equilibrium, DTE)
在LED灯具检测设备中,光谱量测首重温飘稳定性。因为环境温溼度变动所造成的波长偏移,將影响从光谱计算而来的CIE色度与亮度(Y值)之稳定性和精度,进而大大降低LED灯具检测参考价值。 OtO 光谱仪拥有非常优异的热稳定性,其中温飘稳定度足以媲美欧美大厂,仅有0.027nm/℃,Y值的变动仅±0.5%。我们独有的动態热平衡技术(Dynamic Thermal Equilibrium, DTE),是在优化光学与机构系统设计下实现, 提供无温控环境下之精確量测,取代过去庞大且昂贵的LED检测设备,使得客户得以在產线上广佈检测设备,全面確保產品品质。
解决方案2. 消杂散光演算法
对於LED晶粒(封装前)检测设备,OtO成功开发的「消杂散光演算法」,可在建立LED强度校正係数前先行扣除杂散光。杂散光经过该软体校准后,与德国IS標准机比对晶粒亮度误差仅R2=0.999以上,杂散光比例可从0.15%降至0.01%! 优异一致性与大幅提升量测准確度,更获LED全球晶粒生產前三大厂採用。OtO致力於以卓越的技术,將光谱仪应用到高阶LED检测系统中。
解决方案3. OtO独家8种高速曝光模式
根据不同应用及情境,OtO光谱仪擷取光谱的方式大致可分为:1.连续/不连续 ;2. 软件/硬件触发;3. 相同/不同积分时间,因而可组合出8种曝光模式,最大弹性满足使用者的量测需求。 在LED工业线上检测,使用者需先设定「不连续 - 硬件触发 - 相同或不同积分时间 曝光模式」,以每一个LED灯作为硬件触发信號,並事先在软件上设定1000组曝光时间列表,便可依序得到这1000个LED灯的光谱数据,实现LED自动化线上检测。
解决方案4. 可依需求扩充至8个GPIO!
推荐机种
类別 | 型號 | 传感器类型 | 讯杂比 | 最短曝光时间 | 特性 |
中阶LED检测 | SE2020 | 紫外加强前照式CCD | 250 | 1ms | 平价、最畅销 |
中阶LED检测 | SE2030 | CMOS | 330 | 0.21ms | 平价、高速曝光需求 |
高阶LED检测 | SE2060 | 紫外加强背照式CCD | 500 | 5ms | 紫外灵敏度极佳、低噪讯、优异的热稳定性 |
高阶LED检测 | SE2090 | 紫外加强背照式CCD | 500 | 1.5ms | 高速曝光、紫外灵敏度极佳、低噪讯、优异的热稳定性 |
其他应用
LED白光(封装后)检测设备、太阳能板反射率量测设备、雷射波长校准、萤幕色差校正
来源于:台湾超微光学