LAM光斑分析仪
- 可安装到工作台上进行光斑测量。
- 内置风冷采样器。
- 业内领先的刀口系统
- 特有的图像层析重建算法
- 可测50微米到8毫米范围的光斑
- 精确测量光斑轮廓、功率和位置
规格参数
传感器类型
硅基,使用刀口法测量技术
光谱范围
硅: 350 - 1100 nm,
刀片数
7个刀片,并使用图像层析重建技术
光斑尺寸范围
50 微米至8 毫米
光斑宽度分辨率
光斑尺寸大于100微米时分辨率为1 微米光斑尺寸小于100微米时分辨率为0.1 微米
光斑宽度测量精度
±2%
功率范围
最高4 kW (需要衰减片和高压空气风冷,可能会有一些限制)
功率测量精度
±5%
位置测量精度
± 15 微米
位置分辨率
1微米
测量频率
5 Hz
重量
传感器和电缆共约 1500 克
接口
USB 3.0, windows 7/8/10 (32 & 64 位)
最低硬件要求
CPU i3 1.6 GHz, 4 GB 内存
可选配件
ND 光学衰减片
最低硬件要求
CPU i3 1.6 GHz, 4 GB 内存, Windows 7/8/10
订购信息:
LAM-光斑分析仪: 7刀口硅基传感器,配备高功率衰减片和安装适配器。
商品属性 [波长] 350 - 1100 nm [光束尺寸] 50 um至8 mm [传感器] 硅基,使用刀口法测量技术