LAM U3 – 光斑质量分析仪
产品特点:
- 可安装在工作平面上进行高功率激光光斑分析。
- 内置风冷采样器。 - 支持USB3.0接口, 采样区域大,分辨率高(2.35 M像素)。
- 用于脉冲或连续激光器的12位数字输出。
- 曝光时间可调。
- 触发延迟可调。
- 配套软件支持沿机器Z轴上的M平方因子测量 和焦深计算。
- 可替换的衰减片。
规格参数
可测光斑尺寸
⌀60 微米- ⌀6 毫米
光谱范围
350 – 1310 纳米
功率范围@900/1070
连续激光1-2500 W, 脉冲激光1 –1000 W
最大功率密度
100,000 W/cm² (详情请咨询厂家)
分散到收集器的功率
输入的90%
功率测量
需要用户标定参考值
增益
1 -24 dB
动态范围
60 dB 不含衰减片
快门速度
39 微秒至 20 秒
可换衰减片
-镜面衰减片
–ND100
-ND200
-ND1000
输入平面到传感器的光学距离(工作台水平面l)
40.7 ± 0.2 毫米
最大BPP
最大输入角 25 度
分辨率(竖直×水平像素数)
1920 x 1200
像素尺寸
5.86 微米x 5.86 微米
位置精度
± 15 微米
位置分辨率
1 微米
帧率
40 帧每秒(8 位)
探测器响应区域
11.34 x 7.13毫米
接口
USB 3.0, windows XP/7/8/10 (32 & 64 位)
像素位深
8/12 位
同步方式
• 软件
• 硬件(外部触发信号)
曝光控制
可在程序界面设置
器件大小(长×宽×高)
147 x 105 x 48毫米
电源要求
~2 W(通过USB 3.0 接口)
重量(标配)
传感器加数据线约1500克
机械接口
安装孔: 2 个同心对位M4螺孔,深6毫米
冷却条件
6-8 Bar的压缩空气
运行温度
0° – 35° C
订购信息:
LAM-U3光斑分析仪: 产品包含一个支持350 – 1310 纳米波长测量的相机,内置装有高功率衰减片的电动衰减片转轮以及固定用转接头, 一套可更换的衰减片,USB3.0数据线,配套软件,装有用户手册的光盘或U盘, 和一个便携包。
商品属性 [波长] 350-1310nm [光束尺寸] ⌀60 um- ⌀6 mm